Метод неразрушающего контроля, предназначенный для идентификации и количественного определения кристаллических фаз в порошковых и твердых
образцах, изучения структуры и размера кристаллитов, качества, однородности твердых материалов и тонких пленок.
Международное обозначение метода - XRD ( от X-Ray Diffraction ). Приборы для выполнения дифрактометрических исследований - дифрактометры.
|
История создания первого промышленного дифрактометра
Уже через несколько месяцев после открытия в 1895 году Вильгельмом Конрадом Рентгеном рентгеновского излучения
(подробно об открытии рентгеновского излучения www.XRF.ru ),
в Германии Карлом Мюллером было организовано производство рентгеновских трубок. Ученые Макс фон Лауэ, Генри Мозли и Нобелевские
лауреаты Уильям Генри и Уильям Лоренс Брэгги проводят исследования физической природы и свойств рентгеновского излучения. В это же время в городе
Эйндховен, Нидерланды, фирма Филипс (в то время ведущий производитель ламп накаливания) начинает разработки по исследованию различных
возможностей применения рентгеновского излучения. В 1924 фирма Филипс патентует свою разработку - безопасную рентгеновскую трубку "Metalix",
приобретает фабрику Карла Мюллера и налаживает
массовое производство рентгеновских трубок в Эйндховене и Гамбурге,
создавая на их базе безопасное рентгеновское оборудование "Metalix" для нужд медицины и промышленности. Это оборудование
широко используется в США - первой стране, официально введшей на своей территории правила тестирования материалов. В 1945 году в тесном
сотрудничестве с Военно-Морской Лабораторией США, Северо-Американское отделение Филипс
разрабатывает первый промышленный дифрактометр марки "Norelco", вслед за которым вскорости выпускается широко известный дифрактометр марки Philips PW1050.
Последующее развитие аналитического приборостроения, открытие новых алгоритмов обработки результатов измерений вместе
с совершенство- ванием компьютерной техники привели к созданию современных программно - аппаратных комплексов дифрактометрического анализа.
К таким приборам относится разработка фирмы
PANalytical (Philips Analytical) - многоцелевые дифрактометры семейства X'PERT PRO и уникальный дифрактометр
Empyrean.
.
PANalytical (бывшая Philips Analytical) www.PANalytical.com
Ведущий мировой производитель приборов
и программного обеспечения рентгеновской дифрактометрии и рентгеновской флуоресцентной спектрометрии.
Аналитические Экс-Рэй Системы www.Analytical.ru
Официальный агент фирмы PANalytical в России и СНГ.
